【導(dǎo)讀】在測試測量設(shè)備開發(fā)應(yīng)用中，如何實現(xiàn)信號鏈DC Offset的補償，以及如何獲得高精度靈活可調(diào)電壓輸出一直都是系統(tǒng)設(shè)計者需要克服的困難。在本文中，我們將探討TI新一代多通道DAC——DAC80508在諸如示波器、電池測試系統(tǒng)等測試測量設(shè)備中的實現(xiàn)上述功能的優(yōu)勢。
TI的最新一代DAC產(chǎn)品，可在需要小尺寸和高性能要求的情況下實現(xiàn)高密度和多通道精確電壓輸出的解決方案。如今市場上的測試測量設(shè)備例如電池測試設(shè)備Battery Tester，數(shù)字示波器DSO，以及半導(dǎo)體測試儀器ATE等都會有多通道模擬參考電壓輸出的需求。而目前的DAC也存在一些缺點：高噪聲，高功耗，缺乏靈活性等。這些缺點可以通過使用TI新一代DAC0508來克服。如圖1所示是TI新一代DAC80508與市場已有方案的一些基本參數(shù)的對比。
圖1 DAC80508 市場競爭分析表
下面我們將詳細探討DAC80508的具體特點：
1.小封裝多路輸出：
工程師在測試測量應(yīng)用中更頻繁地使用高通道數(shù)的DAC或者利用單通道外加多路復(fù)用器的架構(gòu)，而單個組件的尺寸對于最大化這些系統(tǒng)中的通道密度非常重要。 TI的經(jīng)典產(chǎn)品DAC8560搭載CD74HC4051多路復(fù)用器，并通過多個通道間的切換來實現(xiàn)多路模擬量的輸出。
最新發(fā)布的具有多路模擬輸出DAC參考設(shè)計（見圖2），實現(xiàn)了8通道高集成度模擬量輸出，在示波器16通道數(shù)字邏輯分析儀參考電壓需求具有突出小型的整體尺寸和高精度性能。DACx0508系列使設(shè)計人員能夠創(chuàng)建具有最高性能的密集型，高通道數(shù)數(shù)字邏輯分析儀的解決方案。例如，DAC80508ZYZFT采用2.4mm x 2.4mm裸片尺寸的球柵陣列（DSBGA）封裝提供了八個16位電壓DAC通道，提供了最小尺寸的16位當(dāng)今市場上的通道高性能DAC。該系列使TI產(chǎn)品組合在尺寸，性能方面更具競爭力。小巧的設(shè)備尺寸加上創(chuàng)新的測試和制造技術(shù)，可節(jié)省成本，使該系列產(chǎn)品在價格上也具有競爭力。
● 1 LSB INL以16位分辨率實現(xiàn)最高的精度；
● 2.5 V高精度內(nèi)部基準(zhǔn)電壓，典型值為5 ppm /°C；
● 2.4 x 2.4 mm的BGA封裝是16位，多通道DAC可用的最小封裝；
圖2 單通道DAC與多通道DAC布局對比
這種小封裝的產(chǎn)品特點對于16通道數(shù)字邏輯分析儀，多通道電壓輸出電池測量儀以及多通道半導(dǎo)體電壓電流測試設(shè)備有著非常大的優(yōu)勢，可以最大程度上降低對PCB布局的嚴格要求。也是新一代測試測量設(shè)備的一個重要需求方向。
2.高精度高集成度：
當(dāng)一個集成度較低的DAC在實際產(chǎn)品應(yīng)用中應(yīng)該考慮的因素較多。如圖3所示，DAC的獨立參考電壓由外部的標(biāo)準(zhǔn)供電生成，而且重要的是需要對參考電壓有著嚴格的要求，尤其是其溫漂性能以及負載偏移率；另外DAC的輸出增益調(diào)節(jié)也是需要有單獨的buffer進行調(diào)理，同時高精度buffer的供電也要有低噪聲LDO供電；如果在單通道DAC基礎(chǔ)上實現(xiàn)多通道輸出，則不可避免的要引入多路復(fù)用器，正如前面所介紹的內(nèi)容，多路復(fù)用器的引入會在布板面積上占據(jù)過多的空間，而且必須要考慮的還有器件本身引入的噪聲以及通道間的干擾問題。在高密度元器件布局的DSO中，過多的元器件也就意味著過多的損耗的增加，這不僅僅會增加整體電源的功率要求，同時也會由于過多的損耗導(dǎo)致局部溫升明顯，對于一些溫度參數(shù)較為敏感的元器件會因此犧牲過多的性能參數(shù)。
圖3 單通道DAC應(yīng)用系統(tǒng)圖
DACx0508 是低功耗八通道緩沖電壓輸出數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC) 引腳兼容系列中的一員，具有 16/14/12 分辨率。如圖4所示，DACx0508 包括一個 2.5V（5ppm/°C）內(nèi)部基電壓準(zhǔn)，消除了大多數(shù) 應(yīng)用中所需的外部精密基準(zhǔn)。用戶可選增益配置提供 1.25V（增益 = ½）、2.5V（增益= 1）或 5V（增益 = 2）滿量程輸出電壓。該器件由單個 2.7V 至 5.5V 電源供電，具有單調(diào)性，并能提供 ±1LSB INL 的高線性度。DACx0508 通過一個運行時鐘速率高達 50MHz 的串行接口進行通信。VIO 引腳使串行接口可在 1.7V 至5.5V 范圍內(nèi)運行。DACx0508 靈活接口支持使用廣泛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)微處理器和微控制器。
DACx0508 采用了上電復(fù)位電路，以便進行上電并將DAC 輸出保持在零電平或中間電平。該器件能耗低至 0.6mA/通道(5.5V) 的電流，因此非常適用于依靠電池供電的設(shè)備。如果按通道斷電功能分析，器件電流消耗量將降低至 15µA。
圖4 DAC80508應(yīng)用系統(tǒng)圖
在多功能，高集成度化的市場趨勢下，電池測試設(shè)備以及DSO中數(shù)字邏輯分析儀可以在很大程度上弱化對DAC外部電源與緩沖器的需求，集成的內(nèi)部增益參數(shù)配置使得DAC的輸出變得更加靈活，加上高精度的優(yōu)勢，使得這種高集成度的IC 越來越受市場的歡迎。
3.多通道無縫切換：
當(dāng)單通道DAC輸出多路模擬電壓量時搭配信號多路復(fù)用器使用時，尤其在不同的通道間進行切換時，在其輸出端會產(chǎn)生微小電壓毛刺或反沖。該反沖與多路復(fù)用器的開啟和關(guān)斷時間、導(dǎo)通電阻以及負載電容成函數(shù)關(guān)系。具有低導(dǎo)通電阻的大開關(guān)通常需采用大輸出電容，而每次輸入端開關(guān)時，都必須將其充電至新電壓。如果輸出未能建立至新電壓，則將產(chǎn)生串?dāng)_誤差。因此，多路復(fù)用器帶寬必須足夠大，且多路復(fù)用器輸入端必須使用緩沖放大器或大電容，才能建立至滿量程階躍。此外，流過導(dǎo)通電阻的漏電流將產(chǎn)生增益誤差，因此這兩者都應(yīng)盡可能小。如果想詳細了解可以參考《模擬開關(guān)和多路復(fù)用器基礎(chǔ)參數(shù)介紹》。
圖5 受鄰近切換通道影響的靜態(tài)通道的波形
從圖5中可以看出，靜態(tài)通道輸出上因為鄰近通道切換而出現(xiàn)尖峰。示波器在每個大約 100μs 的短時間段內(nèi)的測量結(jié)果為 ±3.5mV 左右。-85dB 的 MUX 通道間隔離應(yīng)會在轉(zhuǎn)換過程中產(chǎn)生 ±1.7mV 左右的尖峰。
而如果采用DAC80508多通道DAC集成器件，則無需考慮外部多路復(fù)用器切換造成的影響，從DAC80508的數(shù)據(jù)表格（如圖6）中可以看到cross talk的參數(shù)，其DC crosstalk僅10uV。
圖6 DACx0508 通道間Crosstalk參數(shù)
同時，我們也可以從測試數(shù)據(jù)中得到各通道間的干擾情況，如圖7所示，這是在Gain = 1情況下進行的測量結(jié)果。
圖7 受鄰近切換通道影響的靜態(tài)通道的波形
從圖中可以看出，靜態(tài)通道輸出上也會存在因為鄰近通道切換而出現(xiàn)尖峰。但是示波器在大約 4μs 的短時間段內(nèi)的測量結(jié)果為 400uV MAX。同時也不要忽略由于示波器精度的原因而產(chǎn)生的誤差。從對比結(jié)果上也能清楚的看到，在多通道集成的DAC80508擁有優(yōu)秀的crosstalk性能，為多通道模擬輸出提供較高的性能提升。這種多通道獨立模擬輸出架構(gòu)，會有效降低通道切換時引入的尖峰電壓。在DSO中的16通道數(shù)字邏輯分析儀，以及用于調(diào)節(jié)偏置的多路參考電壓的生成擁有先天的低噪，低干擾的優(yōu)勢。詳細內(nèi)容可以參考：DAC80508 Reference Design
綜上所述，DAC80508 多通道 16bit 高精度，集成參考電壓，增益調(diào)節(jié)，寬電壓范圍輸出的新一代DAC產(chǎn)品，憑借其特有的性能指標(biāo)，將有效提高測試測量設(shè)備的產(chǎn)品性能。
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