【導(dǎo)讀】當(dāng)測量片狀多層陶瓷電容器（MLCC）的靜電容量時(shí)，測量值是否大于或小于標(biāo)稱值？以下介紹諸如此類問題的解決辦法以及注意事項(xiàng)。
溫度補(bǔ)償型（低容量）測定的注意事項(xiàng)
溫度補(bǔ)償型（低容量）MLCC在靜電容量測定時(shí)、測定值比公稱值或大、或小。
按以下順序進(jìn)行說明。
1)測定治具的“O”補(bǔ)正是？
2)OPEN補(bǔ)正時(shí)的端子間距離和靜電容量測定值
3)靜電容量測定值的變化理由
4)測定時(shí)的注意事項(xiàng)
1)測定治具的“O”補(bǔ)正是？
①如下圖MLCC在測定時(shí)、會發(fā)生
?測定線上串聯(lián)電阻以及電感
?MLCC夾住時(shí)測定端子間的浮游容量
造成不能準(zhǔn)確的測定MLCC的靜電容量。所以、為了消除這些影響因素的行為就稱為『測定治具的“O”補(bǔ)正』。
測定前的OPEN補(bǔ)正、SHORT補(bǔ)正就屬于此補(bǔ)正。
②OPEN補(bǔ)正是把MLCC夾住時(shí)測定端子間的浮游容量消除、SHORT補(bǔ)正是把測定線上串聯(lián)電阻以及電感消除
③在OPEN補(bǔ)正、SHORT補(bǔ)正后、MLCC測定精度可以得到確保。
2)OPEN補(bǔ)正時(shí)的端子間距離和靜電容量測定值
以1pF的MLCC靜電容量測定為例、改變OPEN補(bǔ)正時(shí)的測試治具端子間距離然后確認(rèn)靜電容量，結(jié)果、OPEN補(bǔ)正時(shí)端子間距離比MLCC的L尺寸越大靜電容量測定值也越大、比MLCC的 L尺寸小靜電容量測定值也變小。
■測定條件
品名 ：GRM0334C1H1R0B
測定器 ：HP4278A
測定治具：HP TEST FIXTURE16034E(挾み込み型)
條件 ：1±0.1MHz/1±0.2Vrms
3)靜電容量測定值的變化理由
■為何OPEN補(bǔ)正時(shí)端子間距離會使靜電容量測試值產(chǎn)生變化呢？
金屬和金屬間存在絕緣體的話就會產(chǎn)生靜電容量。因?yàn)榭諝庖彩墙^緣體所以測定端子間會發(fā)生靜電容量。
金屬和金屬間的距離越短端子間靜電容量越大
OPEN補(bǔ)正端子間距離和靜電容量測定結(jié)果
4)測定時(shí)的注意事項(xiàng)
＜OPEN補(bǔ)正時(shí)的重點(diǎn)＞OPEN補(bǔ)正端子間距離和靜電容量測定結(jié)果
OPEN補(bǔ)正時(shí)的端子間距離、請和瓷片的L寸法一致。
測定治具端子間距離長的情況下進(jìn)行OPEN補(bǔ)正、補(bǔ)正時(shí)的浮游容量比實(shí)際的測定時(shí)的靜電容量小。
OPEN補(bǔ)正端子間距離和MLCC L寸法不一樣的狀態(tài)下進(jìn)行補(bǔ)正、治具自身的浮游容量就不能得到正確的0補(bǔ)正。
OPEN補(bǔ)正時(shí)端子間距離比MLCC L寸法小、導(dǎo)致治具間的浮游容量比實(shí)際大的情況下0補(bǔ)正、結(jié)果補(bǔ)正后的測定結(jié)果變小。
相反，端子間距離比MLCC L寸法大時(shí)、補(bǔ)正后的測定結(jié)果變大。
OPEN補(bǔ)正時(shí)端子間距離的偏差、比起使用夾具型的測定治具（例如Agilent16034）、鑷子型的治具（例如Agilent16334）的偏差要大些。
鑷子型的治具和夾具型的相比、測定端子先端的面積（式①的Ｓ）大、所以因端子間距離的差異而產(chǎn)生的靜電容量測定值的變動也大。
高介電常數(shù)型（大容量）測定的注意事項(xiàng)
高介電常數(shù)型（大容量）MLCC在の靜電容量測定時(shí)、測定值比公稱值小。
按以下順序進(jìn)行說明。
1)大容量MLCC的測定事例
2)靜電容量測定值低下的理由
3)測定時(shí)的注意事項(xiàng)
1)大容量MLCC的測定事例
大容量和非大容量MLCC在ALC (Automatic Level Control )ON/OFF的狀態(tài)下測定靜電容量。結(jié)果如下。
■測定條件
品名：GRM188R60J106K/ GRM188B11H103K
測定器 ：Agilent E4980A
測定治具：Agilent TEST FIXTURE16334(鑷子型)
條件 ： GRM188R60J106K；1±0.1KHz/0.5±0.1Vrms
GRM188B11H103K；1±0.1KHz/1.0±0.2Vrms
⇒大容量的靜電容量測定時(shí)、ALC 設(shè)定OFF與ALC設(shè)定ON的狀態(tài)下相比，靜電容量測定值要小
■靜電容量測定結(jié)果
2)靜電容量測定值低下的理由
各種情況下用萬用表測試測定電壓的結(jié)果如下。
對于大容量MLCC、ALC 設(shè)置OFF時(shí)測定電壓值不滿足測定條件
■測定條件：1±0.1KHz/0.5±0.1Vrms
■測定條件：1±0.1KHz/1.0±0.2Vrms
■靜電容量變大時(shí)、為何測定電壓Vc變小？？
靜電容量C、以
來表示。
靜電容量C變大的話 Zc會變小。
在測定電路中、測定電壓Vc以
來表示。
所以、Zｃ變小的話測定電壓Vc也變小。
■測定電壓Vc變小時(shí)、為何靜電容量的測定結(jié)果變小？
MLCC的靜電容量會隨著周圍溫度、印加的電壓值的變化而變化。
測定條件20℃、1KHz時(shí)的MLCC的AC電壓特性如下圖所示。
AC電壓變化靜電容量也變化、0.5Vｒｍｓ的印加電壓小靜電容量也變小。
3)測定時(shí)的注意事項(xiàng)
■靜電容量低時(shí)、準(zhǔn)備好萬用表對測定電壓進(jìn)行測量。
如果、測定電壓比規(guī)定的測定電壓小的話
①設(shè)定ALC ON
②使用能發(fā)生規(guī)定電壓的測定器
測定電壓在測定時(shí)、如下照片把萬用表搭在測定治具的兩端。
關(guān)于高誘電系積層陶瓷電容的老化
高誘電系陶瓷電容器，主要構(gòu)成成分為鈦酸鋇（BaTiO3）。本系列電容器具有靜電容量隨著時(shí)間的推移而變小的現(xiàn)象。這個(gè)現(xiàn)象就叫作靜電容量的老化特性。
BaTiO3系是下圖1所示的鈣鈦框形結(jié)構(gòu)，在居里點(diǎn)以上溫度時(shí)，就是這樣的立方形。
BaTiO3系陶瓷電容器加熱到居里點(diǎn)以上時(shí)，結(jié)晶構(gòu)造由正方晶系轉(zhuǎn)變成立方晶系。冷卻到居里點(diǎn)溫度以下時(shí)，結(jié)晶構(gòu)造由立方晶系轉(zhuǎn)變成正方晶系。（圖2）
總之，結(jié)晶對的微細(xì)構(gòu)造加熱到居里點(diǎn)以上溫度時(shí)，就能恢復(fù)到最初狀態(tài)，老化也就再次開始。
由于老化減少的靜電容量，在貴公司安裝工程的加熱過程可以恢復(fù)。
[補(bǔ)充資料]
高誘電系的積層陶瓷電容器的靜電容量，以經(jīng)過125℃以上的熱處理24小時(shí)后的值作為基準(zhǔn)，與時(shí)間成對數(shù)關(guān)系直線性下降。請參考如下本公司制品靜電容量老化特性的代表例子。
補(bǔ)充資料/ GRM188B11H103K測定比較
來源：村田制作所
