產品特性：
- PXI半導體套件進一步提升了PXI系統測試通用半導體設備的性能
- 10款最新DC、數字、射頻和開關設備在混合信號芯片測試中有效提升靈活性并減低成本
- HSDIO儀器的NI PXIe-654x系列儀器包括四個全新模塊
- 半導體測試領域
美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）近日發布10款最新PXI產品，有效擴展PXI進行混和信號半導體測試的功能。全新以軟件定義的產品套件專為NI LabVIEW圖形化開發系統而設計，包含四個高速數字I/O（HSDIO）儀器、兩個數字開關、兩個增強射頻儀器、一個高精度源測量單元（SMU）和專用數字數字矢量文件導入軟件。全新的NI PXI半導體套件包含多種新特性，包括200 MHz單端數字I/O、10 pA電流分辨率、快速多頻帶射頻測量、直流/數字開關和波形發生語言（WGL）以及IEEE 1450標準測試接口語言（STIL）文件導入功能。
PXI半導體套件進一步提升了PXI系統測試通用半導體設備的性能，例如測試ADC、DAC、電源管理IC、無線IC和微電機系統（MEMS）設備。由于其配備的高級功能，相比常用于半導體設備的特征采集、驗證和生產測試的傳統箱式儀器和自動化測試設備（ATD）解決方案，這個套件提供了更高的吞吐量、更強的靈活性和更快的開發時間。
ADI公司工程師David Whitley ：“來自NI的全新混和信號PXI儀器套件能夠導入WGL和STIL設計向量，驗證我們IC設計的數字協議和關鍵時間參數。PXI和LabVIEW為我們提供了靈活的混和信號特征提取平臺，可以用來快速配置定制的測試，降低產品總開發時間和評估成本。”
HSDIO儀器的NI PXIe-654x系列儀器包括四個全新模塊，提供了高達200 MHz的單端時鐘速率和高達400 Mbps的數據速率，讓工程師能夠測試高速芯片設計，并使用更快的自定制通信協議。這個系列中的高級數字模塊包括多種附加特性，例如雙向通信、實時比特位比較、雙數據傳輸速率、不同I/O線路的多種定時延遲以及從1.2 V至3.3 V范圍中選擇22個不同電平的功能，提高了數字I/O測試的靈活性。這些新型的I/O設備擴展了NI PXI-654x、PXI-655x和PXI-656x系列高速數字設備，提供了總共10種高達200 MHz帶有單端和LVDS電平功能的PXI儀器。
新的NI PXI-4132高精度源測量單元(SMU)提供了低至10 pA的電流靈敏度，用于高分辨率電流測量。它帶有遠程（四線制）傳感和單一輸出的外部保護，在一個PXI插槽中提供了高達±100 V的電壓承受能力。SMU還提供了多個其他改進，包括板載 硬件序列引擎，可用于硬件定時、高速曲線跟蹤和在PXI背板觸發和同步多個PXI-4132 SMU的能力。PXI-4132作為現有的已提供四象限40 W功率輸出（±20V、±2A）的NI PXI-4130 SMU的補足，為PXI提供了高精度和高功率源測量選項。
新型的NI PXI-2515和NI PXIe-2515數字開關通過幫助工程師將精確直流儀器直接復用到連接在被測芯片的HSDIO線路上，進一步增強了PXI產品套件。全新開關還提供了改進的信號連接特性，用于參數測量，同時還保持了在高速數字邊沿上的信號完整性。
全新NI PXIe-5663E和NI PXIe-5673E 6.6 GHz射頻PXI Express矢量信號分析儀和矢量信號發生器使用稱為射頻列表模式的新特性，通過射頻配置中的快速和確定性的變化，提供了增強的測量速度。全新功能使工程師通過下載預配置的儀器參數，在不同的射頻配置之間快速循環成為可能。這在測試功率放大器和其他需要驗證多個頻率性能的RFIC中尤其有用。這個增加的功能幫助射頻工程師進行比傳統儀器更快的多頻帶射頻測量。
PXI半導體套件還提供了一種有效導入WGL和STIL數字矢量格式的解決方案，從而簡化了使用NI PXI高速數字產品的設計到測試整合。全新的用于NI軟件的TSSI TD掃描是NI與Test Systems Strategies, Inc.（TSSI）合作的產物，它使得半導體測試工程師將WGL和STIL仿真向量導入PXI系統稱為可能，過去這需要定制軟件開發。可以在www.ni.com得到WGL/STIL軟件工具的評估版，它支持所有的NI PXI-654x、PXI-655x以及PXI-656x HSDIO系列產品。
