【導讀】數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器包含常見的半導體噪聲源，例如散粒、雪崩、閃爍和爆米花噪聲。此外，真實的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器系統(tǒng)具有誤差，包括量化、時鐘抖動、通道線性度和帶寬。實際使用工業(yè)數(shù)據(jù)表來確定可以達到的系統(tǒng)規(guī)格。將介紹有助于分析這些參數(shù)的設計工具，以及控制和減少其他系統(tǒng)噪聲元素的建設性方法。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器包含常見的半導體噪聲源，例如散粒、雪崩、閃爍和爆米花噪聲。此外，真實的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器系統(tǒng)具有誤差，包括量化、時鐘抖動、通道線性度和帶寬。實際使用工業(yè)數(shù)據(jù)表來確定可以達到的系統(tǒng)規(guī)格。將介紹有助于分析這些參數(shù)的設計工具，以及控制和減少其他系統(tǒng)噪聲元素的建設性方法。
噪聲是系統(tǒng)中的一種干擾，它會影響信號質(zhì)量，在模擬通信中更為突出。一個能夠在顯著水平上抵抗噪音的設備可以被認為是一個好設備。為了設計一個盡可能避免這些失真的系統(tǒng)，首先確定可能的噪聲源是明智之舉。本教程是有關管理信號鏈中噪聲的系列討論的延續(xù)。在這一部分中，重點介紹了數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中噪聲和失真的來源。
信號鏈中的噪聲 信號鏈中的噪聲源可以是內(nèi)部的，也可以是外部的。管理信號鏈中的噪聲需要仔細檢查鏈中的每個電路，以盡可能減少噪聲。這是我們討論的基本和關鍵，因為噪聲一旦嵌入信號中，就很難或不可能消除。
重要的是，我們首先簡要回顧一下關于惱人的半導體噪聲的第 1 部分文章中的一些基本但至關重要的主題。了解電噪聲在今天比以往任何時候都更加重要。隨著 14 位和 16 位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器成為主流，并且 18 位和 24 位轉(zhuǎn)換器越來越可用，噪聲通常是限制系統(tǒng)性能的單一因素。毫無疑問，識別其起源和特征是實現(xiàn)信號鏈最大可能精度的關鍵。
一般來說，噪聲是電氣系統(tǒng)中不受歡迎的任何電氣現(xiàn)象。根據(jù)其來源，噪聲可分為外部（干擾）或內(nèi)部（固有）。本文將重點介紹所有數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中固有的以及由采樣過程引起的噪聲。
在圖 1 中，所有外部噪聲源都被組合成術語 Vext。所有內(nèi)部噪聲源都被組合成術語 Vint。
現(xiàn)在我們將研究數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中四種常見的噪聲和失真類型：量化噪聲、采樣抖動、諧波失真和模擬噪聲。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中的噪聲量化噪聲
量化噪聲是數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中最著名的噪聲源。它是由轉(zhuǎn)換器中使用的采樣和量化過程中固有的誤差引起的。這種噪聲的大小由三個因素決定：分辨率、微分非線性和帶寬。
分辨率
量化是將連續(xù)信號劃分為 2N 個離散電平而產(chǎn)生的不確定性，其中 N 是以比特為單位的分辨率。給定量子內(nèi)的所有模擬電壓都具有相同的代碼，這會導致量化不確定性。這種不確定性稱為“量化誤差”。量化誤差的均方根 (RMS) 值是量化噪聲。量化誤差與 2N 成反比。圖 2 顯示了理想 ADC 隨時間變化的量化誤差，該圖還顯示了量化誤差如何隨著分辨率的提高而降低。
分辨率為 N 的理想數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的 RMS 量化噪聲由下式給出：
微分非線性
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的微分非線性 (DNL) 是任何代碼寬度與理想 1 LSB 步長的偏差。理想數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的 DNL 為 0，但當今大多數(shù)精密數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的 DNL < 1。數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的平均 DNL 增加了其平均量化誤差，因此增加了量化噪聲。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器數(shù)據(jù)表中通常不指定平均 DNL，但是，可以使用典型的 DNL 規(guī)范以合理的精度代替它。RMS 量化噪聲，包括分辨率 (N) 和 DNL 的影響，由下式給出：
帶寬
到目前為止描述的量化噪聲假設使用了完整的奈奎斯特帶寬。
如果采樣頻率 (Fs) 和輸入信號在諧波上不相關，則量化噪聲呈高斯分布，并在 DC 和奈奎斯特頻率 (Fn) 之間均勻分布。奈奎斯特頻率 (Fn) 始終是采樣頻率 (Fs) 的一半。該噪聲頻譜密度如圖 4 所示。
在圖 4 中，量化噪聲電壓是工作帶寬內(nèi)噪聲密度曲線下的噪聲。
RMS 量化噪聲，包括分辨率 (N)、DNL 和 BW 的影響，由下式給出：
其中 BW 定義為奈奎斯特頻率 (Fn) 的百分比。
模擬噪聲
模擬噪聲 (Vn) 是指 ADC 輸入或 DAC 輸出的有效噪聲。它是由本系列文章第 1 部分中討論的半導體噪聲源引起的。它可以指定為以 nV/√Hz 為單位的噪聲頻譜密度，以 RMS 或峰峰值為單位的電壓，或以 RMS 或峰峰值為單位的 LSB。Vn 可以來自內(nèi)部或外部來源，是隨機的，并假定為高斯分布。
Vn 通常以 LSBRMS 為單位給出。在 ADC 中，Vn 被稱為轉(zhuǎn)換噪聲，因為它在從一個輸出代碼轉(zhuǎn)換到下一個輸出代碼時表現(xiàn)為不確定性。當 Vn 以 LSBRMS 給出時，等效峰峰值噪聲可通過以下公式獲得：
半導體中有五種常見的基本噪聲源 (Vn)：熱噪聲、散粒噪聲、雪崩噪聲、閃爍噪聲和爆米花噪聲。本系列的第 1 部分詳細討論了這些噪聲源，但現(xiàn)在值得一提的是另一個噪聲源：kT/C 噪聲。
外部噪聲
我們已經(jīng)討論了內(nèi)部噪聲的來源，但外部噪聲的來源也很多。外部噪聲可能來自信號鏈本身以外的任何地方，例如來自電源、數(shù)字開關、射頻 (RFI) 和電磁干擾 (EMI)。這些外部源中的每一個都需要由適當?shù)?PC 板 (PCB) 布局控制，包括接地和接地星點。電源去耦電容器、低通濾波器、RFI 和 EMI 屏蔽都需要對組件和系統(tǒng)有很好的了解。電容器及其自諧振、電感器、鐵氧體磁珠和電阻器等串聯(lián)元件都在最小化侵入噪聲方面發(fā)揮著重要作用。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器數(shù)據(jù)手冊中的噪聲是如何規(guī)定
以下技術指標摘自MAX1062 ADC數(shù)據(jù)手冊。
該表顯示了典型數(shù)據(jù)表中可能出現(xiàn)的分辨率、DNL、孔徑抖動、THD 和模擬噪聲。
結論
在本文中，我們了解了各種數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器參數(shù)如何影響信號鏈中的噪聲。這些包括分辨率、差分非線性、工作帶寬、時鐘抖動、諧波失真以及輸入或輸出參考噪聲。
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