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決定全彩LED顯示屏優劣的6大因素
一塊全彩LED顯示屏的好壞主要可以從以下幾個方面來鑒定
2012-10-31
LED顯示屏
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解決LED顯示屏三高一低技術難題
LED顯示屏急需解決的主要技術問題，歸結為“三高一低”，即高光效、高顯色性、高可靠和低成本的技術問題，實現低成本其實質也是技術問題。本文主要講訴采取的技術路線及其方向，希望通過這篇文章能對led行業企業家在產品的創新上有所幫助。
2012-10-31
LED顯示屏
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提高LED顯示屏遠距離通訊穩定性的有效方法
眾所周知，數據傳輸是工業控制領域一個非常重要的環節，數據傳輸的穩定程度直接影響到產品的可靠性。因此如何提高數據傳輸的可靠性和穩定性便成為工程師不得不面對的課題。下面以本公司的LED生產看板顯示屏項目實施過程中出現的問題為例闡述一下在使用RS-485作為遠距離數據通訊手段時要注意的事項。
2012-10-31
LED
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脈搏測量儀
【導讀】本文主要討論脈搏測量儀電路工作原理 、脈搏測量儀軟件設計、脈搏測量儀安裝與調試 及其解決方案。
2012-10-31
單片機 脈搏 測量
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NI推薦選擇硬件在環（HIL）測試系統I/O接口
高性能模塊化的I/O接口是構建成功硬件在環測試系統所必須的。硬件在環（HIL）測試系統體系結構教程討論了多種硬件在環測試系統體系結構和用于實現的實時處理技術。本教程討論了多種I/O接口選項，能夠用于實時處理器創建您的硬件在環測試系統。
2012-10-31
NI 硬件 測試
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電子負載應用于檢測設備測試中
隨著電子市場的發展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設備也得以廣泛應用。就在LED驅動、電源模塊測試、充電器生產及UPS生產等領域廣泛使用的直流電子負載而言，其已經成為了這些領域必不可少的測試設備。
2012-10-31
電子負載 檢測設備 測試
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如何測試小型存儲器陣列
隨著半導體工藝不斷地進步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉變成數十或數百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實并不是一件容易的事。
2012-10-31
測試 小型 存儲器陣列
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相互調變失真的測量方法
在發射(Tx)路徑上的相互調變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發射路徑上一般都沒有主動組件存在，因此它的相互調變失真特性被稱為“被動的相互調變失真(passive IMD;PIMD)”。當設計一個無線通信電路時，PIMD在每一個功能單元中的變化不大，所以，在研發階段就會先測量PIMD。
2012-10-31
相互調變失真 測量方法
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是什么影響電阻和電阻率測試
影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環境溫濕度、測試電壓、測試時間、測試設備的泄漏以及外界干擾等。本文重點談談上述五大因素。
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測試 主要因素
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