【導讀】工程師在電源完整性測量過程中遇到的主要問題是什么？是德科技(中國)有限公司大中華區市場經理杜吉偉在IIC 2015春季論壇上分享了他們在拜訪工程師過程中了解到的情況。
最主要的問題包括：
●“我的系統中的時鐘和數據噪聲首要來源就是電源噪聲”；
●“我需要測試1.2V電源上的 60mV 紋波，示波器和探頭的固有噪聲干擾了我的測量”；
●“除了測量紋波，觀察時域瞬變，我還需要很好的 FFT 功能以示波器噪聲耦合源”；
●“我不能接受50 Ω SMA電纜對我被測對象電壓帶來的改變, 隔直電容不滿足我的需求，因為用它就看不到電源的漂移”，等等。
杜吉偉認為，電源完整性測量要注意以下四個測量方案自身的影響：
1.本底噪聲：大小影響測量結果
2.支持流行的次級電源：是否支持所有的電源直流電壓
3.負載效應：是否會改變被測直流電壓的值
4.帶寬：是否可捕獲我關心的所有諧波
“在測量過程中，使用隔直電容帶來的問題是，看不到1.5V DDR3電源直流成分，及其可能的跌落和漂移。使用隔直電容帶來的問題是丟失低頻成分。用 SMA 電纜直接連接到示波器50 Ω 輸入帶來的問題是，50Ω 直流阻抗直接將被測信號電壓拉低 ~60mV ，它改變了被測對象的行為。測量帶寬則要足夠才能發現高頻成分。”杜吉偉舉例分析說。
針對這些問題，是德科技推出了目前業內第一個而且是唯一一個電源完整性探頭：N7020A 電源完整性探頭。
它的基本參數如下：
●探頭帶寬 (-3dB):2GHz
●衰減比:1:1
●偏置范圍:± 24V
●直流輸入阻抗:50kΩ +/-2%
●探頭噪:對示波器的本底噪聲僅增加10%
同時是德科技也有實現更好的電源完整性仿真方案，即使用EEsof ADS 和 EM 方案。它的優勢是通過電磁仿真分析地和電源平面噪聲，可處理很大的PCB布局獲取電磁模型，靜態和動態的IR壓降分析，將電壓和電流的分布可視化，以及檢測電源平面的諧振和去偶電容的優化等。
